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B1S-EN探頭

產(chǎn)品時(shí)間：2025-03-17

簡要描述：

德國KK美國GE超聲波探頭貝克休斯B1S-EN探頭，B1S探超聲波探頭，用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件、金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料、板材、棒材、方形材、容器、機(jī)器零件、殼體

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詳細(xì)介紹

B1S-EN探頭

B..S系列

	A=30mm
	B=59mm
	C=45mm
	D=29mm

系列	型號(hào)	頻率 (MHZ)	接口方向	帶寬	晶片直徑	接口類型	保護(hù)膜
BS	B1S-EN	1	側(cè)裝	25	24mm	Lemo 01	ES45
	B1S	1
	B2S	2
	B2.25SE	2.25
	B4S	4
	B5S	5
	B1S-O	1	頂裝
	B2S-O	2
	B4S-O	4
	B5S-O	5

B1S-EN探頭應(yīng)用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機(jī)器零件、殼體

特點(diǎn)

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評(píng)判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用

用于高溫檢測時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

B1S-EN探頭

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