Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

應(yīng)用

檢測管道中的內(nèi)壁減少情況。

背景

局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印?？梢酝ㄟ^成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會引起剝落。剝落并從輥子上脫離的金屬片可落入進(jìn)入板的路徑中，使得片件粘合到輥子上。一旦碎片與輥子結(jié)合，就會在被軋制的板材中開始出現(xiàn)印痕。因此，由輥引起的印模的術(shù)語偽影看起來類似于由腐蝕引起的壁減少。

在許多情況下，新管道將投入使用此類工件。當(dāng)管道運(yùn)行后再進(jìn)行腐蝕檢查時，檢查人員可能會發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認(rèn)為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況，工藝工程師可能會推斷出不正確的腐蝕速率并導(dǎo)致不正確的工藝變化和/或化學(xué)添加 然而，簡單的超聲測量程序可以在制造或安裝階段識別偽影。

設(shè)備

型號38DLP PLUS厚度計，或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。

例

下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250"壁碳鋼1018等級。深色凹痕是減少在管道形成過程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒有腐蝕。

厚度測量以與腐蝕測量相同的方式進(jìn)行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。

在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時，檢查員可能會考慮以下因素：

• 確定管道是ERW還是無縫管道。

• 確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機(jī)。

• 如果管道回路中的多個或所有接頭都是ERW，請確定每個接頭上的工件所在的線。檢查員可能會發(fā)現(xiàn)線路相對于管道改變方位角位置。

• 如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無縫的并且沒有墻壁減少。

結(jié)論

可以通過超聲波厚度測量來檢測管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機(jī)制。向過程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問題以避免過高估計腐蝕速率也很重要。

45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

手持式45MG是一款配置有各種測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與所有奧林巴斯雙晶和單晶探頭探頭兼容。

38DL PLUS

38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進(jìn)行的厚度測量。

標(biāo)準(zhǔn)配置

• 45MG數(shù)字式超聲測厚儀

• AA堿性電池

• 2階試塊和耦合劑

• USB線纜

• 用戶手冊，存于CD盤上

• 測量功能：最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

• 45MG-SE (U8147022)：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭

• 45MG-HP (U8147023)：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭

• 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層

• 45MG-WF (U8147019)：波形選項

• 45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序

選購附件

• MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置microSD存儲卡

• 45MG-RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護(hù)套

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：

• 自動回波到回波

• 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進(jìn)行以下操作：  

• 增益調(diào)整

• 擴(kuò)展空白

• 回波空白

穿透涂層技術(shù)

顯示A掃描的自動回波到回波模式

顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）

調(diào)整*個回波空白的手動回波到回波模式

顯示可選波形的穿透涂層模式

單晶軟件選項

用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的厚度測量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

• 大多數(shù)薄材料和厚材料

• 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

• 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件

• 汽缸孔、渦輪葉片

• 玻璃燈泡、瓶子

• 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料

• 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

單晶高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個選項包含單晶選項。

• 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料

• 厚鑄造金屬部件

• 厚橡膠輪胎、履帶

• 玻璃纖維船體、儲存罐

• 復(fù)合材料板

• 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

可選數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。

數(shù)據(jù)記錄器選項

• 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。

• 32位字符的文件名稱

• 20位字符的ID#（TML#）編碼

• 6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機(jī)上手動創(chuàng)建的文件格式

• 內(nèi)置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡

• 可以在內(nèi)置和可插拔microSD存儲卡之間拷貝文件

• 標(biāo)準(zhǔn)型USB通訊

• 單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸

• 機(jī)載統(tǒng)計報告

• 機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

• GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：  

• 通過USB端口

• 讀取microSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲卡上寫入信息

• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導(dǎo)出到microSD存儲卡

在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。

可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。

機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

GageView接口程序

• 包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)

• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)

• 編輯所存數(shù)據(jù)

• 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值

• 從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀

• 將測量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序

• 收集捕獲的屏幕

• 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告

• 升級45MG軟件

• 下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件

在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。

帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描

用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強(qiáng)測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。